一、超声波探伤校准重要性

在超声波探伤过程中，声速和探头零点的校准至关重要。

这是因为探伤时所依赖的各种参数计算，如状态行所显示，都与声速和探头零点紧密相关。

未经校准的参数可能导致波形显示不准确，进而影响对缺陷的判断和评价。

▍ 声速与探头零点校准

校准声速和探头零点是确保探伤准确的基础，

这些参数直接影响缺陷判断。

▍ 声程校准

保证声程范围正确显示是探伤过程中准确信息获取的关键。

声程校准也是必不可少的环节，它确保屏幕上能够适当显示出声程范围内的波形，从而为探伤人员提供准确的信息，助力他们做出正确的决策。

 

二、直探头校准

在超声波探伤过程中，直探头的校准是关键步骤之一。

根据已知的声速和探头零点情况，我们需要明确校准的具体操作。

如果声速是未知的，那么首要任务是进行声速的校准；而一旦声速已知，我们就可以跳过声速校准环节，直接在已知声速的基础上，利用一点法来进行探头零点的校准。

▍ 已知声速校准步骤

在已知材料声速时，可以采用以下校准步骤：

将材料声速设置为已知值。将探头与校准试块进行耦合。

设定闸门逻辑为单闸门模式，可以选择进波报警或失波报警逻辑，并确保闸门能够套住一次回波。

在此状态下，声程测量值即为一次回波处的声程。

调整探头零点，直至状态行显示的声程测量值(S)与试块的已知厚度相一致。此时所得到的探头零点即为该探头的精确零点。

▍ 未知声速校准步骤

在未知材料声速时，校准步骤较为复杂：

初步设定一个近似的声速值。

将闸门逻辑调整为双闸门模式。

将探头与一个厚度已知且材质与被测材料相同的试块进行耦合。

移动闸门A的起始点，使其与一次回波相交，并适当调节闸门A的高度，使其低于一次回波的最高幅值，同时确保闸门A不与二次回波相交。

同样地，移动闸门B的起始点，使其与二次回波相交，并调节闸门B的高度，使其低于二次回波的最高幅值，同时保证闸门B不与一次回波相交。

调整声速，直至状态行显示的声程测量值与试块的实际厚度相吻合。此时所得到的声速即为该探伤条件下的精确声速值。

将闸门逻辑重新设定为单闸门方式，测量一次回波处的声程，并连续调整探头零点，直至该处测得的声程值也为50mm，这样便确定了探头零点为0.125us。

 

三、双晶探头校准

▍ 启用双探头状态

在进行双晶探头校准时，需要首先启用双探头状态：

在收发组内启用双探头状态。

根据当前的测试任务和所选探头，设置好声程和收发组的各种功能。

将探头与标定试块耦合，调节基本组中的探头零点，使标定回波接近期望位置，同时确保二次回波在显示范围内可见。

▍ 调整声速与探头零点

接下来，通过调整声速值和探头零点，以确保准确测量：

在闸门组内打开双闸门模式。

选择前沿测量方式。

移动闸门A的起点与一次回波相交，但不得与二次回波相交。

同样地，移动闸门B的起点与二次回波相交，并保证不与一次回波相交。

调整闸门高度，使其位于两个校准回波前沿的同一位置。

改变声速值，直至显示出的标定试块厚度与实际相符。

将闸门逻辑设置为单闸门方式，此时声程测量的是一次回波处的声程。

最后，调节探头零点，使状态行的声程测量值与试块的已知厚度相一致。

 

四、斜探头校准

▍ 校准入射点

斜探头校准的步骤与双晶探头相似，但需要特别关注探头的入射点和声波的传播路径。首先，使用IIW试块或CSK-IA试块来测定斜探头的零点：

使用特定试块确定斜探头前边缘位置，保证测量的精确性。

在校准入射点时，使用直尺量出探头前端面与试块R100mm弧圆心之间的距离，此距离即为探头的前沿值。

▍ 校准探头角度

探头角度直接影响声波入射方向，必须准确校准以确保测量精确：

对于用角度值标定的探头，使用IIW试块进行校准；而对于用K值标定的探头，使用CSK-IA试块。

在试块上选择与探头标称值相符的标尺，并将探头放置在试块上左右移动，使得反射体回波达到最高。

此时，入射点对应的刻度即为探头的实际角度或K值。

▍ 校准材料声速与探头零点

通过标准试块和小孔校准材料声速和探头零点，提升测量准确性：

在找到R100mm的最高反射波后，调整显示范围以显示该弧面的二次回波。

选择双闸门方式，并调整A闸门与一次回波相交，B闸门与二次回波相交。

然后，调节声速值使得状态行中的声程测量值(S)为100。此时得到的声速值即为该材料的实际声速。

保持上述测量状态不变，将闸门方式改为正或负，并调节探头零点使得状态行中的声程测量值(S)再次为100。此时得到的探头零点值即为该探头的准确零点。

此外，斜探头的校准并不局限于使用标准试块。理论可以通过已知深度的小孔来进行校准，但实际操作难度相对较大。

 

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